用于测量模数转换器输出字中的位错误的 FPGA 固件项目
对于存在位错误并产生采样错误（也称为闪码、字码错误或代码错误）的应用，能否测出这些位错误导致的错误率十分重要。这份基于 FPGA 固件的应用手册建议了一种在无限期时间内准确测出这些错误的方法，并举例说明如何使用简单的 FPGA 平台完成这种测量。应用手册中介绍的两个示例均有相应代码，可按需索取。
详情介绍
了解错误率的规格以及这些规格的含义 概要介绍在无限期时间内测量采样错误的新方法，这种方法能够测量 ADC 的真实错误率 让客户能够基于不同条件在自己的工作台上测量位错误率 提供适用于 TI 低成本 FPGA 平台的固件，还有简单的 GUI 用于监控长时间的错误率
