应用与设计

自动测试设备

For production IC test applications that demand high performance, cost-effective solutions, ADI offers leading-edge integrated pin electronics (PE), device power supplies (DPS) and parametric measurement units (PMU). These ATE application-specific products, along with ADI's broad portfolio of standard products ranging from MEMS switches to high performance converters to RF transceivers, provide unique solutions from load boards to the newest 5G test requirements.
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For production IC test applications that demand high performance, cost-effective solutions, ADI offers leading-edge integrated pin electronics (PE), device power supplies (DPS) and parametric measurement units (PMU). These ATE application-specific products, along with ADI's broad portfolio of standard products ranging from MEMS switches to high performance converters to RF transceivers, provide unique solutions from load boards to the newest 5G test requirements.

Compare products using our interactive parametric search tables for DPS and PMU and Pin Drivers.

Automatic Test Equipment

特色产品

ADATE318

600 MHz双通道集成DCL,内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎 X+

ADATE318

ADATE318是一款完整的单芯片ATE解决方案,用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)、四象限单引脚(Per-pin)参数测量单元(PPMU)的引脚电子功能。它具有单位芯片VHH驱动功能,支持闪存测试应用,集成的16位DAC和片内校准引擎可提供器件工作所需的所有直流电平。

驱动器提供三种有源状态:数据高电平、数据低电平和端接模式,以及一种高阻抗抑制状态。抑制状态与集成动态箝位电路一同使用,有利于实现高速有源端接。输出电压范围为−1.5 V至+6.5 V,支持各种自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

ADATE318可以作为两个单端驱动/接收通道或一个差分驱动/接收通道使用。每个通道都具有一个高速窗口比较器和一个可编程阈值差分比较器,适合差分ATE应用。每个通道还提供一个四象限PPMU。

用于DCL和PPMU功能的所有直流电平都由24个片内16位DAC产生。为了支持精确的电平编程,ADATE318集成校准功能,可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可以存储在片内,写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

ADATE318利用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。它还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路,用于监控和报告器件温度,以及工作期间可能发生的任何输出引脚或PPMU电压故障。

应用

  • 自动测试设备
  • 半导体测试系统
  • 电路板测试系统
  • 仪器仪表和表征设备
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应用

  • 自动测试设备
  • ADATE320

    内置PPMU的1.25 GHz双通道集成DCL、电平设置DAC和片内校准寄存器 X+

    ADATE320

    ADATE320是一款完整的单芯片ATE解决方案,用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)、四象限单引脚参数测量单元(PPMU)的引脚电子功能。集成片内校准寄存器的专用16位数模转换器(DAC)可提供器件工作所需的所有直流电平。

    这款驱动器提供三种有源模式:高、低和端接模式以及高阻抗抑制状态。当驱动器未对此线路进行有源端接时,抑制状态以及集成动态箝位有利于传输线路反射的显著衰减。开路驱动能力为−1.5 V至+4.5 V,支持各种标准自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

    ADATE320可用作双通道单端引脚电子通道或单差分通道。除了每通道高速窗口比较器之外,ADATE320提供适合差分ATE应用的可编程阈值差分比较器。

    用于DCL和PPMU功能的所有直流电平都由专用片内16位DAC产生。为了支持精确的电平编程,ADATE320集成校准功能,可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可以存储在片内,写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

    ADATE320使用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。它还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路,用于监控和报告器件温度,以及工作期间可能发生的任何输出引脚或瞬变PPMU电压故障。

    ADATE320提供两种版本:标准版本具有输出摆幅为250 mV的高速比较器输出。ADATE320-1具有400 mV输出摆幅。更多信息请参考“订购指南”。

    应用

    • 自动测试设备(ATE)
    • 半导体/电路板测试系统
    • 仪器仪表和表征设备
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    应用

  • 自动测试设备
  • AD5560

    1.2A可编程器件电源,集成16位电平设置DAC X+

    AD5560

    AD5560是一款高性能、高集成度器件电源,提供可编程的驱动电压和测量范围。该产品包括所需的DAC电平,用以设置驱动放大器的可编程输入,此外还包括箝位和比较器电路。片内集成用于DAC功能的失调和增益校正功能。它提供多种可编程测量电流范围,包括五种内部固定范围和两种分别提供最高1.2 A和500 mA电流的外部可选范围(EXTFORCE1和EXTFORCE2)。高电流电平时可实现的电压范围受裕量和最大功耗限制。通过并联或联合多个DPS器件,可以实现1.2 A以上的电流范围或高电流与高电压组合。发生过流、过温状况时,它会提供开漏报警输出,或者在SENSE、DUTGND线上提供开尔文报警。

    该DPS的功能通过一个与SPI™、QSPI™、MICROWIRE™、DSP接口标准兼容的简单三线式串行接口控制,接口时钟速度最高可达50 MHz。

    应用

    • 自动测试设备(ATE)
      • 器件电源
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    应用

  • 参数测量
  • 直流源和电源
  • 自动测试设备
  • ADGM1004

    带集成驱动器的0 Hz至13 GHz、2.5kV HBM ESD SP4T MEMS开关

    X+

    ADGM1004

    ADGM1004是一款宽带、单刀四掷(SP4T)开关,采用ADI公司的微型机电系统(MEMS)开关技术制造而成。该技术支持小型、宽带宽、高线性、低插入损耗开关,能够在低至直流的频率范围内工作,是各种RF应用的理想解决方案。

    集成控制芯片可生成通过CMOS/LVTTL兼容型并行接口静电激活该开关所需的高压。所有四个开关都可单独进行控制。

    该器件采用24引脚、5 mm × 4 mm × 1.45 mm引脚架构芯片级封装(LFCSP)。

    应用

    • 继电器替代方案
    • 自动测试设备(ATE):RF/数字/混合信号
    • 负载/探测板:RF/数字/混合信号
    • 射频(RF)测试仪器仪表
    • 可重复配置型滤波器/衰减器
    • 高性能RF开关
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    应用

  • 开关矩阵
  • 自动测试设备
  • 化学分析和分析仪器
  • 电子测试和测量
  • 军事通信
  • 电子监控和对抗
  • 无人系统
  • 航空电子
  • Space
  • 导弹和精确打击武器
  • 通信

    • 无线基础设施

    ADGM1304

    集成驱动器的DC至14 GHz、单刀四掷MEMS开关
    X+

    ADGM1304

    ADGM1304是一款宽带、单刀四掷(SP4T)开关,采用ADI公司的微型机电系统(MEMS)开关技术制造而成。利用该技术可实现小型、宽带宽、高线性、低插入损耗开关,其工作频率可低至0 Hz/DC,是各种RF应用的理想开关解决方案。

    通过互补金属氧化物半导体(CMOS)/低压晶体管对晶体管逻辑(LVTTL)兼容型并行接口控制一个内部集成的控制芯片产生一个高压用于静电驱动该开关。所有四个开关都可单独进行控制。

    ADGM1304采用24引脚、5 mm × 4 mm × 0.95 mm引脚架构芯片级封装(LFCSP)。

    应用
    • 继电器替代方案
    • RF测试仪表
    • 可重配置的滤波器/衰减器
    • 自动测试设备(ATE): RF/数字/混合信号
    • RF无线通信
    • 高性能RF开关
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    应用

  • 开关矩阵
  • 自动测试设备
  • 电子测试和测量
  • 化学分析和分析仪器
  • Radar
  • 军事通信
  • 电子监控和对抗
  • 无人系统
  • 航空电子
  • Space
  • 导弹和精确打击武器
  • 通信

    • 无线基础设施