在下方可查找测试液晶显示器设备的集成电路和参考设计（配有原理图、测试数据和设计文件），这些资源显示了： 用于高性能 SAR 数据转换器、高速放大器和精密放大器的数据采集信号链设计方法（可缩短投入市场的时间） 用于优化高通道数 LCD 测试设备设计的通道密度、功耗、电源管理、时钟分配和信号链性能的方法 有关最大程度地降低由于基准电压加载、时钟和配电而导致的通道间变化的示例